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高頻感應(yīng)加熱設(shè)備為什么會(huì)產(chǎn)生工藝過熱現(xiàn)象

時(shí)間:2021-07-15 點(diǎn)擊量:815

高頻感應(yīng)加熱過熱現(xiàn)象一般可分為一般過熱、斷口遺傳以及細(xì)小結(jié)構(gòu)遺傳,下面就對(duì)三種過熱現(xiàn)象的處理措施做簡(jiǎn)單的分析:

  1.高頻感應(yīng)加熱設(shè)備一般過熱現(xiàn)象:

  高頻感應(yīng)加熱溫渡過高或在低溫下保溫時(shí)間太長,引發(fā)奧氏體晶粒粗化稱為過熱。細(xì)小的奧氏體晶粒會(huì)致使鋼的強(qiáng)韌性低落,脆性變化溫度降低,增長淬火時(shí)的變形開裂偏向。而致使過熱的緣由是爐溫儀表失控或混料(常為不懂工藝產(chǎn)生的)。過熱構(gòu)造可經(jīng)退火、正火或?qū)掖蔚蜏鼗鼗鸷?,在畸形環(huán)境下從新奧氏化使晶粒細(xì)化。

  2.高頻感應(yīng)加熱設(shè)備高頻斷口遺傳現(xiàn)象:

  有過熱構(gòu)造的鋼材,重新加熱淬火后,雖能使奧氏體晶粒細(xì)化,但偶然仍呈現(xiàn)細(xì)小顆粒狀斷口。發(fā)生斷口遺傳的實(shí)際爭(zhēng)議較多,一般以為曾因加熱溫渡過高而使MnS之類的雜物溶入奧氏體并富集于晶接口,而冷卻時(shí)這些混合物又會(huì)沿晶接口析出,受打擊時(shí)易沿細(xì)小奧氏體晶界斷裂。

       3.高頻感應(yīng)加熱設(shè)備細(xì)小結(jié)構(gòu)的遺傳現(xiàn)象:

  有細(xì)小馬氏體、貝氏體、魏氏體構(gòu)造的鋼件從新奧氏化時(shí),以慢速加熱到通例的高頻淬火溫度,乃至再低一些,其奧氏體晶粒仍舊是細(xì)小的,這類征象稱為構(gòu)造遺傳性。要解除細(xì)小構(gòu)造的遺傳性,可采納中心退火或?qū)掖蔚蜏鼗鼗鹛幹谩?br/>以上過熱現(xiàn)象需充分了解其原因避免加熱時(shí)引起的損耗,如需了解更多技術(shù)問題歡迎向我司技術(shù)人員咨詢。